FYS5310 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II
Beskrivelse av emnet
Timeplan, pensum og eksamensdato
Kort om emnet
Emnet gir en teoretisk og praktisk innf?ring i moderne metoder for ? studere materialer med transmisjonselektronmikroskopi (TEM). Det legges vekt p? ? forst? spredningsprosessene som raske elektroner gjennomg?r i materialer, og hvordan disse danner grunnlag for bestemmelse av krystall- og elektronstruktur med teknikker som elektron energitaps-spektroskopi (EELS), scanning-TEM (STEM), elektronholografi, og (kvantitativ) konvergentstr?lediffraksjon (CBED).
Emnet passer b?de for de som skal bruke TEM i sine egne master- og PhD studier, for de som 欧洲杯在线买球_欧洲杯投注网站推荐@er i prosjekter hvor TEM er viktig, eller for de som trenger ? forst? resultater fra avanserte TEM-studier.
Hva l?rer du?
Etter ? ha fullf?rt emnet kan du:
- redegj?re for moderne metoder innen elektronmikroskopi, -diffraksjon og -spektroskopi.
- diskutere fordeler og ulemper ved de ulike metodene.
- beskrive samspillet mellom elastisk og uelastisk spredning av elektroner i materialer.
- evaluere konsekvensene av forskjellige spredningsmekanismer for tolkning av diffraksjon, spektroskopi og avbildning med elektroner.
Opptak til emnet
Studenter m? hvert semester?s?ke og f? plass p? undervisningen og melde seg til eksamen?i Studentweb.
Studenter tatt opp til andre masterprogrammer kan, etter s?knad, f? adgang til emnet hvis dette er klarert med eget program.
Dersom du ikke allerede har studieplass ved UiO, kan du s?ke om opptak til v?re?studieprogrammer, eller s?ke om ??bli enkeltemnestudent.
Anbefalte forkunnskaper
Overlappende emner
- 10 studiepoeng overlapp med FYS9320 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II.
Undervisning
Emnet undervises intensivt med 2 timer forelesninger 4 timer kollokvie/lab?per uke.
Ettersom?undervisningen inneb?rer laboratorie- og/eller feltarbeid, b?r du?vurdere ? tegne en egen reise- og personskadeforsikring.?Les om hvordan du er forsikret som student.
Eksamen
- Avsluttende muntlig eksamen som teller 100 % ved sensurering.
Som eksamensfors?k i dette emnet teller ogs? fors?k i f?lgende tilsvarende emner: FYS9320 – Elektronmikroskopi, -diffraksjon og spektroskopi II
Karakterskala
Emnet bruker?karakterskala fra A til F, der A er beste karakter og F er stryk. Les mer om karakterskalaen
Adgang til ny eller utsatt eksamen
Det arrangeres?utsatt eksamen?i starten av neste semester for studenter som dokumenterer gyldig frav?r fra ordin?r eksamen.
Det arrangeres?ny eksamen?for studenter som ikke best?r ordin?r eksamen.
Studenter som trekker seg under eksamen blir ikke tilbudt ny eksamen.
Mer om eksamen ved UiO
- Kildebruk og referanser
- Tilrettelegging p? eksamen
- Trekk fra eksamen
- Syk p? eksamen / utsatt eksamen
- Begrunnelse og klage
- Ta eksamen p? nytt
- Fusk/fors?k p? fusk
Andre veiledninger og ressurser finner du p? fellessiden om eksamen ved UiO.